VIP-medlem
Jonslipmaskin ArBlade 5000
ArBlade 5000 ?r en h?gpresterande modell av Hitachis jonslipmaskin. Den uppn?r ultrah?ghastighetsslipning. H?gteffektiv snittsbearbetning g?r provbear
Produktdetaljer
Jonslipmaskin ArBlade 5000
ArBlade 5000 är en högpresterande modell av Hitachis jonslipmaskin.
Den uppnår ultrahöghastighetsslipning.
Högteffektiv snittsbearbetning gör provbearbetningen enklare när elektroskopssnittet observeras.
-
Egenskaper
-
Specifikationer
Egenskaper
Slipningshastigheter upp till 1 mm/h*1！
Den nyutvecklade PLUSII-jonpistolen släpper ut en jonstråle med hög strömtäthet, vilket ökar kraftigt*2för slipningshastigheten.
- *1
- Si framhäver skärmkanten 100 µm, max bearbetningsdjup 1 timme
- *2
- Två gånger högre slipningshastighet än våra produkter (IM4000PLUS: tillverkad 2014)
Jämförelse av slipningsresultat
(Prov: automatisk blyantkärna, sliptid: 1,5 timme)
Våra produkter IM4000PLUS
ArBlade 5000
Maximal slipningsbredd upp till 8 mm!
Använd ett bredt snittsslipningsprover med en bearbetningsbredd på upp till 8 mm, vilket är mycket lämpligt för slipning av elektroniska komponenter.
Kompositslipmaskin
IM4000-serien kompositslippare (tvärsnittsslipning, plattslipning) är mycket välkända.
Proven kan förbehandlas efter behov.
Slipning av snitt
Skärning eller mekanisk slipning av mjuka material eller kompositmaterial som är svåra att hantera
Planslipning
Reparation eller ytrengöring av prover efter mekanisk slipning
Diagram för slipningsbearbetning
Planslipningsdiagram
Specifikationer
| Allmänt | |
|---|---|
| Användning av gas | Ar(argon)gas |
| Accelerationsspänning | 0～8 kV |
| Slipning av snitt | |
| Snabbaste slipningshastighet (material Si) | 1 mm/hr*1Innehåller 1 mm/h*1 |
| Max slipningsbredd | 8 mm*2 |
| Största provstorlek | 20(W) × 12(D) × 7(H) mm |
| Rörelseområde för prover | X ± 7 mm, Y 0 ~ + 3 mm |
| Intervallbearbetning av jonstrålar | Standardkonfiguration |
| Svingvinkel | ±15°, ±30°, ±40° |
| Planslipning | |
| Maximalt bearbetningsområde | φ32 mm |
| Största provstorlek | φ50 × 25(H) mm |
| Rörelseområde för prover | X 0～+5 mm |
| Intervallbearbetning av jonstrålar | Standardkonfiguration |
| Rotationshastighet | 1 r/m、25 r/m |
| Lutningsvinkel | 0～90° |
- *1
- Si framhäver skärmkanten 100 µm, max bearbetningsdjup 1 timme
- *2
- Vid slipning av prover med bredt snitt
Val
| Projektet | Innehåll |
|---|---|
| Hög slitstyrka | Slitstyrka är ungefär dubbelt så hög som standard (utan kobalt) |
| Mikroskop för bearbetningsövervakning | Förstörning 15 × till 100 × dubbel- och treoptisk (CCD kan monteras) |
Relaterade produktkategorier
- Fältlanseringsskanningselektronmikroskop (FE-SEM)
- Skanningselektronmikroskop (SEM)
- Transmissionselektronmikroskop (TEM/STEM)
Onlineförfrågan
-
Kontakter
-
Företag
-
Telefon
-
E-post
-
WeChat
-
Kontrollkod
-
Meddelandeinnehåll
-